AD4857BBCZ是一款全缓冲、8 通道同步采样、16 位、1 MSPS 数据采集系统 (DAS),具有差分、宽共模范围输入。其功能架构如图 1 所示。AD4857 采用 5 V 低电压供电、灵活的输入缓冲器供电,并使用精密的低漂移内部基准和基准缓冲器,可独立配置每个通道的 SoftSpan 范围,以匹配本机应用信号摆幅,从而最大限度地减少额外的外部信号调节。为了进一步最大化单转换动态范围,AD4857 采用了无缝高动态范围 (SHDR) 技术。启用该技术后,通道的输入信号路径增益会在逐个采样的基础上自动优化,从而在不影响线性度的情况下最大限度地降低每个采样的转换器噪声。
特点
完整的 16 位数据采集系统
8 个内部缓冲通道同时采样
每个通道 1 MSPS 吞吐量
差分、宽共模范围输入
25°C 时典型输入漏电流为 ±75 pA
满量程输入阶跃沉淀时间 < 300 ns
集成基准和基准缓冲器(4.096 V)
集成电源去耦电容器
1 MSPS 时每通道 45 mW,功率随吞吐量而变化
最小化外部信号调节
无缝高动态范围
每个采样、每个通道自动增益范围
保持 ppm 级 INL
每通道 SoftSpan 输入范围,双极或单极
±40 V、±25 V、±20 V、±12.5 V、±10 V、±6.25 V、±5 V、±2.5 V
0 V 至 40 V、25 V、20 V、12.5 V、10 V、6.25 V、5 V、2.5 V
轨至轨输入过驱动容差
高性能
INL:典型值为 ±160 μV(±40 V 范围)
信噪比:94.6 dB 单转换典型值(±40 V 范围)
DR:98.1 dB 单转换典型值(±40 V 范围)
总谐波失真 -117 dB 典型值(±40 V 范围)
CMRR:120 dB 典型值
数字灵活性
SPI CMOS(0.9 V 至 5.25 V)和 LVDS 串行输入和输出
可选 16 位数字平均过采样
可选偏移、增益和相位校正
7.00 mm × 7.00 mm、64 球 BGA 全解决方案基底面
应用
自动测试设备
航空和航天
仪器仪表和控制系统
半导体制造
测试与测量
型号
品牌
封装
数量
描述
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